Технология машиностроения

  • Просмотров 1106
  • Скачиваний 13
  • Размер файла 454
    Кб

1. План изготовления детали. Назначения технологических допусков при выполнении операции План изготовления детали разрабатывается на базе маршрутной технологии и служит основой для проектирования технологических операций. План — это графически иллюстративный документ учебного характера, содержащий следующую информацию: номера и названия всех технологических процессов, имеющих место при изготовлении детали в

соответствии с принятым технологическим маршрутом ее изготовления. наименование и предполагаемую модель оборудования, на котором выполняется конкретная технологическая операция эскиз обработки заготовки технические требования на выполнение операции На эскизе заготовка должна быть изображена в рабочем положении обработки на станке, ее конфигурация должна соответствовать форме, которая получается после обработки на

операции или ее отдельном этапе. Обработанные поверхности выделяются двойной контурной линией красного цвета. На эскизах должны быть выполнены теоретические схемы базирования при выполнении технологических операций. При необходимости указываются номера поверхностей или осей, являющихся технологическими базами, с индексами операций на которых эти базы сформировались. Указываются операционные размеры, предписанные к

выполнению данной операции, установу, позиции. Операционные размеры обозначаются буквенными или буквенно-цифровыми символами с индексами операций. Символы размеров берутся из схемы кодирования поверхностей. При необходимости используется латинский и греческий алфавит. Технические требования на выполнение технологических операций включает в себя требования к шероховатости, технологические допуски на размер форму и

взаимное расположение поверхностей. При назначении технологических допусков на размеры на настроенном станке необходимо придерживаться следующих правил: 1. допуск на размер между измерительной базой и обработанной поверхностью ТАоп складывается из статической погрешности получения размера ωстАоп, пространственных отклонений измерительной базы Δ и погрешности базирования ε от несовпадения технологической и