Разработка методики программного тестирования цифровых устройств с помощью программного пакета Design Center

  • Просмотров 1762
  • Скачиваний 368
  • Размер файла 73
    Кб

The abstract The diploma text contens: pages – pictures – additions – Key words: testing, model, synchronizing device, demultiplexer, register, counter, gate, D-flip, T-flip. The aim of this work is developing program testing method for digital devices. The draughts of the structural electrical schemes of demultiplexer, counter, register and synchronizing device are the add of this work. Реферат Пояснительная записка содержит: страниц – рисунков – приложений – Ключевые слова: тестирование, модель, синхронизирующее устройство, демультиплексер, регистр, счетчик, вентиль, D-триггер,T-триггер. Целью

данной работы является разработка методики программного тестирования цифровых устройств. Прилагаются: чертежи структурных электрических схем демультиплексера, вычитающего счетчика, регистра, синхронизирующего устройства. 1 Введение В настоящее время промышленностью выпускаются интегральные схемы сложные по своей структуре и функциональному предназначению. В сязи с этим возникает проблема контроля выхода годных

интегральных схем и выявления причин возникающих неполадок. Затраты на тестирование сложных интегральных схем с привлечением контрольно-измерительной аппаратуры может во много раз превышать стоимость самой интегральной схемы из-за длительности процесса тестирования и сложности его реализации. Тестирование на модели разрабатываемой интегральной схемы существенно удешевляет процесс тестирования и сокращает время его

осуществления. На основе проекта интегральных схем, разработанного на этапах логического и топологического проектирования, создаются реальные их образцы . Каждый образец должен затем пройти функциональный контроль, устанавливающий правильность его работы. В общем случае при тестировании на математической модели или реальном образце обнаруживаются неисправности интегральной схемы путем анализа состояний ее выхода на

определенных наборах входных сигналов. Успешное решение задачи тестирования нтегральной схемы на всех стадиях проектирования и изготовления определяет в конечном итоге ее важнейшие характеристики, такие, как бездефектность проектирования, надежность и устойчивость работы, стоимость образцов и другие. Различают два вида тестирования интегральных схем: а) функциональное тестирование, осуществляемое на всех этапах