Рассматриваются вопросы изучения свойств наноалмазов детонационного синтеза — страница 20

  • Просмотров 2372
  • Скачиваний 6
  • Размер файла 1636
    Кб

поверхности алмазной фазы в составе функциональных поверхностных групп. В работе [90] высказано предположение, что атом азота, замещающий атом углерода в кристаллической решётке алмаза, имеет три ближайших соседних атома углерода на расстоянии 0,147 нм. Оставшиеся два его электрона образуют неподеленную пару, четвертый атом углерода находится от внедренного атома азота на расстоянии около      0,25 нм и имеет

неспаренный электрон. Таким образом, создаются условия для расширения элементарной ячейки алмаза. а0 = (0,356768 + 6,4∙10-5lgx) нм, где 0,001< x < 0,114 ат.% [90]. В другой работе для природных алмазов эта зависимость задается прямой с наклоном a/c = 3,9∙10-40м4 [91], а для А-центров в алмазе – 0,9∙10-40м4 [35]. кристаллической решётки и концентрацией азота, то можно было бы ожидать увеличения параметра кристаллической решётки на 0,0012 нм или на 3,310-3 от

нормального значения. Экспериментально же было обнаружено сжатие кристаллической решётки ДНА на 1,410-3. Таким образом, можно прийти к выводу, что не все атомы азота входят в кристаллическую решётку. Микроструктура ДНА. Определение параметров микроструктуры ДНА было проведено из анализа формы профиля линий (220) методом четвертых моментов [92]. Были рассчитаны размер областей когерентного рассеяния и величина микронапряжений

второго рода. Величина микронапряжений второго рода определялась по формуле: = E∙(/), где Е = 1000 ГПа – модуль Юнга алмаза [93]. Параметры микроструктуры ДНА приведены в таблице 1, где они сравниваются с данными для взрывных алмазов, полученными в других вариантах детонационного синтеза. Таблица 1– Микроструктура образцов детонационных алмазов ОКР, нм Микронапряжения второго рода Параметр кристаллической решётки, нм вещества а/а, %

ГПа 4-6 1 10 0,35620,0003 Тринитротолуол –циклотриметилентринитрамин 5-10 0,42-0,47 4,2-4,7 - Вода  циклотриметилентринитрамин 5-15 0,1 1,0 0,35720,0004 Углерод  циклотриметилентринитрамин Как следует из данных таблицы 1, образец ДНА, полученный из сплава тринитротолуола с циклотриметилентринитрамином, характеризуется наибольшими значениями микронапряжений второго рода и, как следствие этого, наиболее деформированной решёткой. Такие же данные

были получены позже и Чен Кваном [94]. кристаллическая кубическая решётка более напряжена и расширена по сравнению с кристаллической решёткой взрывных алмазов. Из анализа профиля линии (220) образцов ДНА было установлено, что смещение атомов углерода в кристаллической решётке составляет 0,006...0,021 нм, объёмная доля аморфной фазы алмаза составляет от 46 до 80 объёмн.%. Среднеквадратичные статические смещения, как и рентгенографическая