Определение параметров материалов по данным рентгенографии — страница 6

  • Просмотров 234
  • Скачиваний 15
  • Размер файла 918
    Кб

плоскости на порядок отражения. Элементарный анализ приведенных формул .позволяет сде­лать ряд весьма важных практических выводов. 1. Чем больше длина волны применяемых лучей, тем дальше от центра располагаются линии, соответствующие отражениям. от одних и тех же плоскостей одного и того же кристалла. Пра­вильность такого утверждения вытекает из того факта, что боль­шим длинам волн будут соответствовать большие углы

скольжения,. а при увеличении последних, согласно уравнению (#), увеличи­вается расстояние между линиями на рентгенограмме. Таким об­разом, длина волны применяемых лучей является весьма важным фактором, определяющим построение самой рентгенограммы. Снимая рентгенограммы с одного и того же вещества на разных. излучениях, мы никогда не получим тождественной картины. По­лученные рентгенограммы будут отличаться одна от

другой и по положению линий и по числу их. На рентгенограммах, получен­ных на излучении с большими длинами волн, число этих линий будет меньше, и, наоборот, при съемке рентгенограмм на корот­коволновом излучении число линий возрастает. 2. С увеличением индексов плоскостей отражения соответству­ющие им линии будут располагаться дальше от центра рентге­нограммы, так как с увеличением индексов увеличивается угол

отражения, а следовательно, и расстояние между линиями на рентгенограмме. 3. Чем менее симметрична кристаллическая решетка, тем больше линий получается на рентгенограмме. Если взять, например, высокосимметричную простую кубическую решетку, то для всех шести граней куба, имеющих индексы (100), (010), (001) и симметрично расположенные плоскости с отрицательными индексами, на .рентгенограмме получится одно кольцо (опре­деляемое парой

симметричных дуг), т.к. всем этим значениям индексов для одного порядка отражения будет соответствовать одно значение угла  а следо­вательно, и одно определенное значение 2L. В этом случае говорят, что такие плоскости структурно равно­ценны (эквивалентны). Число структурно эквивалентных плоско­стей называется множителем повторяемости. Совершенно очевидно, что чем больше множитель повторяе­мости для плоскостей

определенного типа, тем интенсивнее соот­ветствующие линии на рентгенограмме. Таким образом, на рентгенограмме поликристаллического об­разца с кубической решеткой, вследствие совпадения отражений от нескольких структурно эквивалентных плоскостей, получаются сравнительно малочисленные, но зато очень интенсивные линии. Чем ниже симметрия кристалла, тем на его рентгенограмме больше линий, интенсивность же этих линий