Контроль качества объектива на интерферометре ИКД-110 — страница 3

  • Просмотров 1972
  • Скачиваний 397
  • Размер файла 8
    Кб

вышеуказанный пункт. 1-      2-      3-      4-      схемы; 5-      интерференционная картина возникает между волновым фронтом, отраженным от рабочей поверхности эталона, и волновым фронтом, прошедшим через объектив, отраженный от дополнительного эталонного сферического зеркала и еще раз прошедшим через испытуемый объектив в обратном направлении. Т.О. кратность прохождений

испытуемого волнового фронта через объектив равна 2.