Дифракционный контраст

  • Просмотров 1943
  • Скачиваний 254
  • Размер файла 227
    Кб

Московский Авиационно-Технологический Институт (МАТИ-РГТУ) им. К.Э.ЦИОЛКОВСКОГО КУРСОВАЯ РАБОТА ПО ДИСЦИПЛИНЕ «РЕНТГЕНОГРАФИЯ И КРИСТАЛЛОГРАФИЯ» НА ТЕМУ: ДИФРАКЦИОННЫЙ КОНТРАСТ Студент: Группа: 3КМ-4-76 Москва 2004 г. СОДЕРЖАНИЕ 1. Введение 2. Амплитудный контраст 2.1 Контраст плотности и толщины 2.2 Z-контраст 3. Фазовый контраст 3.1 Контраст кристаллической решетки 3.2 Контраст муара 3.3 Френелевский контраст 3.4 Контраст стенок доменов

4. Заключение 5. Список литературы 1. ВВЕДЕНИЕ Основными задачами просвечивающей электронной микроскопии в исследованиях металлов и металлических материалов являются: 1.     Анализ элементарных дефектов кристаллического строения (дислокаций, дислокационных петель и дефектов упаковки в плотноупакованных структурах), а так же сложных дефектов и дефектов объемного характера. 2.     Анализ выделяющихся в

гетерогенных сплавах частиц и разных включений (в том числе газовых пузырей и пустот) в материалах, подвергнутых, например, старению , облучению, диффузионному отжигу. Во всех применениях дифракционной микроскопии очень важно сопоставление картин дифракции с микрофотографиями. В картинах дифракции особый интерес представляют эффекты диффузного рассеяния, именно с ними могут быть связаны эффекты контраста на

микрофотографиях; рефлексы и другие особенности дифракционной картины сравнивают с элементами микроструктуры с помощью темнопольных фотографий. 3.     Среди задач дифракционной электронной микроскопии следует выделить анализ доменной структуры ферромагнетиков и сегнетоэлектриков. Контраст (C) определяется как разница в интенсивности (∆I) между двумя соседними областями: С = (I1-I2)/I2 = ∆I/I2. Контраст подразделяется

на две основных категории - амплитудный и фазовый. 2. Амплитудный контраст Амплитудный контраст, связанный с вариацией плотности и/или толщины, обусловлен некогерентным (резерфордовским) рассеянием электронов, сечение которого сильно зависит от Z атома, а полная интенсивность - от плотности вещества и толщины образца. Сечение сильно направлено вперед и в пределах <~5° определяет контраст толщины и плотности. В этом угловом