Альтернативные источники энергии. Отработанное масло

  • Просмотров 1695
  • Скачиваний 483
  • Размер файла 414
    Кб

Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Государственная морская академия имени адмирала С.О. Макарова Архангельский филиал КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА №1 ПО МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЮ Вариант№9 Выполнил: студент 2 курса Блохин М.В. А-8005909 Проверил: доцент Бекряшева Г. Н. Архангельск 2008 1.     Выявление скрытых дефектов рентгеноскопией Практически наиболее важными методами

обнаружения дефектов в судостроительных материалах являются физические методы рентгеноскопии: рентгеновский, гамма-лучевой, магнитный, ультразвуковой. Рентгеновская дефектоскопия основана на способности электромагнитных коротковолновых лучей проникать через твёрдые тела. К этой группе относятся рентгеновские лучи и лучи радиоактивных элементов (радия, кобальта и др.) представляющие по своей природе коротко волновые

электромагнитные колебания (излучения). При прохождении через тело заготовки лучи теряют часть своей энергии и ослабляются в связи с поглощением и рассеиванием их материей вещества. Степень ослабления интенсивности зависит от атомного веса, толщины и структуры просвечиваемого вещества. 2 Рис.1 Принципиальная схем Jb а просвечивания металла рентгеновскими лучами 1 J0 d D Ja Jb 4 3 1 – контролируемое тело; 2 – направление лучей; 3 –

рентгеновская плёнка; 4 – дефект. Картина просвечивания проектируется на плоскость, которая для металлов обычно фиксируется на рентгеновской плёнке. При прохождении лучей через тело изделия толщиной D интенсивность их будет ослаблена и в точке a выразится: Ja = J0e– μ (D – d), [1] а в точке b: Jb = J0e– μ D , [2] Где Ja – интенсивность лучей, после прохождения их через часть тела, имеющую дефект толщиной d; J0 – интенсивность лучей, падающих

на тело; Jb – интенсивность лучей после прохождения их через часть тела, не имеющую дефекта; е – основание натуральных логарифмов; μ – коэффициент ослабления лучей. На основании уравнений [1] и [2] Ja = e μ D, [3] Jb Откуда следует, что чем больше будет отношение Jb / Jb отличаться от единицы, тем сильнее выявится контрастность дефекта на плёнке и чем больше μ, т.е. чем мягче излучение, то тем более мелкие дефекты возможно выявит. В